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Zur unserer neuesten Produktlinie gehören Inspektionssysteme zur Kontrolle des Aufdrucks auf Wafern (PV).

Die Systeme zeichnen sich neben der hohen Verarbeitungsgeschwindigkeit von 600 Zellen pro Minute und mehr vor allem durch ihre Bedienfreundlichkeit aus.

Es werden keine Kenntnisse in der Bildverarbeitung oder der Messtechnik vorausgesetzt, um das System einzurichten. Die Software extrahiert alle erforderlichen Parameter während des Einlernvorgangs aus der Referenz-Solarzelle, die aus der laufenden Produktion stammt. Die Einrichtung reduziert sich somit auf die Angabe der Toleranzen, und das auch nur dann, wenn dir Vorgabewerte überschrieben werden sollen.


Die Inspektionssysteme 'Solar' werden unter dem Label

TWIC - The Wafer Inspection Company

in Kooperation mit der Firma Hilker & Partnervertrieben.


Sie finden genaue Informationen unter der Website www.twic-solar.com .